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采用適應CCD采集的C-T光學系統，平場采樣，全譜接收
獨立的光譜采集、處理模塊，高性能的ARM處理器，實時操作系統，獨立優化的數據處理單元，可極大縮短←分析時間，提高儀器的分析精度；
▲曲率半徑
450mm
▲IV型全息像差校正原刻光柵
刻線3600線/nm
▲波長範圍
130-800nm
▲檢測基體
鐵、銅、鋁、鎳、鋅、錫、鈦、鎂等基體