| 加工定制 : | 否 | 類型 : | 鍍層測厚儀 |
| 品牌 : | 天星 | 型號 : | ED400型渦流測厚儀 |
| 測量范圍 : | 0～500μm | 顯示方式 : | 數顯 |
ED-400型渦流測厚儀適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
天星ED-400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
● 量程寬- ED400型渦流測厚儀量程達到0～500 μm。
● 精度高- 測量精度達到2%。
● 分辨率高- 分辨率達到0.1 μm
● 校正簡便- 只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
● 基體導電率影響小- 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。
● 可靠性提高- 采用集成度高、穩定性好電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。
● 穩定性提高- 采用溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場長期使用。
● 探頭芯壽命長- 采用強度高的磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大延長。
技術參數
型號 | ED-400 |
測量范圍 | 0～500 μm |
測量精度 | 0～50 μm：±1 μm； 50～500 μm：±2% |
分辨率 | 0～50 μm：0.1 μm； 50～500 μm：1 μm； 0～500 μm：1 μm（可選） |
使用溫度： | 5～45℃ |
外形尺寸 | 150 mm×80 mm×30 mm |
重 量 | 280 g |
標準配置:
主機
探頭
基體（6063鋁合金）
校正箔片 一套4片（附檢測報告）
儀器箱
可選附件:
備用探頭
基體
校正箔片（附檢測報告）
